ED XRF - Spektrometer ElvaX II

Spektrometer ElvaX II je univerzálny energiovo disperzný XRF spektrometer určený pre analýzu prvkov v rozsahu od Na po U. Spektrometer okrem bežnej kvalitatívnej, semikvantitatívnej a kvantitatívnej analýzy umožňuje tiež vysoko presnú bezkalibračnú analýzu kovových zliatin a unikátnu metódu, ktorá kombinuje výhody bezkalibračnej a kalibračnej analýzy pri analýze veľmi malých vzoriek alebo vzoriek so zakriveným povrchom.

Táto unikátna metóda je vhodná hlavne pre kriminalistickú elebo archaometrickú analýzu. Spektrometer môže priamo analyzovať akýkoľvek typ vzoriek (kovové zliatiny, prášky, kaly, organické kvapaliny, pasty, filtre, atď.) s veľmi dobrými detekčnými limitmi a vysokým spektrálnym rozlíšením. Vďaka veľmi priaznivej cene tak nachádza uplatnenie nielen v tradičných aplikačných oblastiach ED XRF spektrometrie (kontrola kvality v metalurgii, pri výrobe pigmentov, keramických materiálov a olejov, v colných a kriminalistických laboratóriách, pri analýze životného prostredia), ale tiež v oblastiach, kde použitie takýchto spektrometrov nebolo doteraz efektívne z dôvodu vysokej ceny spektrometra s dostatočným rozlíšením (analýza Ca a P v kŕmnych zmesiach, analýza premixov, biochemické laboratóriá, mobilná tribotechnická analýza, ...).

Spektrometre sa dodává tiež v konfigurácii pre veľmi presnú analýzu zliatin drahých kovov alebo pre kriminalistické laboratóriá (výmenné kolimátory od 1 do 4 mm, zabudovaná videokamera pre pozicovanie vzoriek). Software spektrometra umožňuje veľmi presnú bezkalibračnú analýzu alebo kombináciu kalibračnej a bezkalibračnej analýzy, tieto postupy eliminujú všetky problémy s variablinou geometriou vzorky (je možné merať napríklad aj veľmi tenké drôtiky, alebo volne sypané špony a piliny) pri súčasnom dosiahutí veľmi nízkej chyby analýzy (pod 0.1 %) i pre komplikované systémy ako sú napríklad Pt/Ir/Pd/Rh zliatiny.